错误 #4553
ICIC测试，多个中心ue和高干扰边缘ue同时存在，给多个中心ue同时灌包，高概率出现cu挂死，出现概率3/4
开始日期:
2025-12-04
计划完成日期:
% 完成:
0%
预期时间:
问题归属:
CU
发现问题版本:
Rel_3.1.3
目标解决问题版本:
Rel_3.1.4
描述
1、ue1接入CELL_241，为高干扰边缘ue;
2、ue2——ue7接入CELL_241，为非高干扰边缘ue；
3、Ue8接入CELL_242，为高干扰边缘ue；
在给ue2——ue7灌包的过程中，先出现反复掉线，5s左右cu出现core_dump
初步分析：ue_context_modify_require和同频切换、重建立信令同时出现时，有可能会出现重复释放
历史记录
由 席 振斌 更新于 11 天 之前
【问题原因】
UeContextModificationRequired信令和收到A4事件下发周期测量的的重配置信令都存在trans的泄漏，一个ue只能支持4个trans并发处理，达到上限后，会释放所有的trans,挂死就是因为trans的泄漏，在处理A4时只有一个trans,而在处理A4时需要2个trans,导致达到4个上限，清理了所有的trans,包括正在处理A4的trans，此时处理A4的trans成为了野指针，而这个野指针在处理流程中还在被调用，使用了已释放的内存导致cu挂死；
【修改方案】
根因修改：解决了UeContextModificationRequired信令和收到A4事件下发周期测量的的重配置信令的trans泄漏问题；
直接原因修改：达到4个上限后，释放所有的trans时对当前正在使用的trans做标记不释放此trans；
【回归方法和注意事项】
ICIC测试用例：5个中心UE，1个边缘ue，给5个中心ue灌包