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错误 #632

在板测试，相关峰值波动较大（100~250）

由 高 峰 在 超过 3 年 之前添加. 更新于 超过 3 年 之前.

状态:
已解决
优先级:
高
指派给:
董 小平
类别:
FPGA
开始日期:
2021-08-30
计划完成日期:
% 完成:

0%

预期时间:
问题归属:

文件

相关峰值图形.PNG (19.4 KB) 相关峰值图形.PNG 董 小平, 2021-08-30 16:02
相关值变化.PNG (12.7 KB) 相关值变化.PNG 董 小平, 2021-08-30 16:02
在板相关峰值.png (65 KB) 在板相关峰值.png 董 小平, 2021-08-30 16:04

历史记录

#1

由 高 峰 更新于 超过 3 年 之前

现象：
1.射频入口采数、sync_alg入口采数（相关峰148），离线matlab和本地仿真分析，相关峰220；

AP：
1. 频偏不调整，观察现象；
2. 观察相关峰值是否明显，胖瘦程度；
3. 在板灌数，复现现象；

#2

由 董 小平 更新于 超过 3 年 之前

问题在最佳采样点的问题。测试MATLAB的数据，改变采样位置，最大相关值呈现sin波形的状态。

在板测试出来的波形图有类似的变化趋势。

解决办法;暂时相关门限值改为90，继续测试

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