云智软通研发流程管理系统

2025-12-26

13:38 3.0基站产品测试 错误 #4666 (转测试): ICIC特性，ue切换到目标基站后，再次出发A4事件，没有下发重配置的消息，导致无法进行周期性测量上报

cu已知提单跟踪 王 旭初

2025-12-24

18:01 3.0基站产品测试 错误 #4659 (转测试): ICIC特性，xn断联后上报的A4事件，不应该处理

会导致XN断链后，上报A4事件，对应的block无法释放 王 旭初

2025-12-17

09:44 3.0基站产品测试 错误 #4619 (审视): ICIC特性，两个同频邻区建立xn连接后，并且接入高干扰 边缘ue，断链其中一个基站，期望结果是会释放对应的高干扰边缘block，但实际未释放

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实际断联后，并未释放最后一个block 王 旭初

09:33 3.0基站产品测试 错误 #4617 (审视): ICIC特性，高干扰边缘ue触发切换场景，切换到对端基站后，上报路损值为0

如图所示：
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du已知该问题，提单跟踪 王 旭初

2025-12-12

10:04 3.0基站产品测试 错误 #4598 (审视): ICIC特性，从中心用户变为高干扰+边缘，du状态更新有问题，当前只有从边缘用户变为高干扰+边缘，才可以

du已知，提单跟踪 王 旭初

10:02 3.0基站产品测试 错误 #4597 (审视): ICIC特性，高干扰+边缘ue上行调度起始RB有问题，从0起始，到30，期望结果是从213起始，到243

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王 旭初

10:00 3.0基站产品测试 错误 #4596 (审视): ICIC特性，边缘ue和中心ue同时做上行业务，中心ue的上行rb调度数量不足。中心ue单独做业务时，调度rb数量是ok的

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王 旭初

09:57 3.0基站产品测试 错误 #4595 (审视): ICIC特性，接入2个ue，状态分别为中心ue和高干扰边缘ue，状态变化0变为1，或者2变为3，du出现core_dump

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王 旭初

09:55 3.0基站产品测试 错误 #4594 (审视): ICIC特性，接入2个ue，一个中心ue，一个高干扰边缘ue，中心ue上行调度区间会占用部分边缘ue的资源

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王 旭初

09:53 3.0基站产品测试 错误 #4591: ICIC特性，上行调度，同一个slot中心用户和边缘用户同时调度，导致边缘用户未预留后4个rb给common pucch，期望结果最多只能调度到269，但实际能调度到273

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王 旭初