张 倩
- 注册于: 2022-08-04
- 最后登录: 2026-06-12
问题
项目
- 解决方案集成测试 (开发人员, 2022-08-04)
- eMBB2.0 BBIT (开发人员, 2022-08-04)
- 研发产品测试 (开发人员, 2022-08-04)
- 2.0基站产品化测试 (开发人员, 2022-08-04)
- 3.0基站产品测试 (开发人员, 报告人员, 2026-05-14)
- B5G_UE (开发人员, 报告人员, 2025-01-06)
- FirstCall (开发人员, 报告人员, 2024-11-28)
- 基站横联 (开发人员, 报告人员, 2025-04-17)
- 客户局点问题 (开发人员, 报告人员, 2026-01-14)
活动
2026-06-12
- 11:59 3.0基站产品测试 错误 #5272 (审视): 3.2.1pre2T1版本 高速移动场景配置双流时，上行mcs掉0
- 11:58 3.0基站产品测试 错误 #5272 (进行中): 3.2.1pre2T1版本 高速移动场景配置双流时，上行mcs掉0
- 11:58 3.0基站产品测试 错误 #5273 (审视): 5.8G高速移动场景（350Km/h），上行mcs低
- 11:45 3.0基站产品测试 错误 #5273: 5.8G高速移动场景（350Km/h），上行mcs低
- 修改频偏估计和频偏补偿微码模块，不再有频偏限制，问题已解决
- 11:57 3.0基站产品测试 错误 #5334 (审视): 321E好中差点测试，好点用户会影响中差点用户上行mcs
- 11:57 3.0基站产品测试 错误 #5334 (进行中): 321E好中差点测试，好点用户会影响中差点用户上行mcs
- 11:44 3.0基站产品测试 错误 #5334: 321E好中差点测试，好点用户会影响中差点用户上行mcs
- 修改频偏估计微码模块，频偏计算恢复正常，问题已解决
- 11:55 3.0基站产品测试 错误 #5368 (审视): 321E，差点用户影响好点用户上行mcs
- 11:49 3.0基站产品测试 错误 #5368 (进行中): 321E，差点用户影响好点用户上行mcs
- 11:42 3.0基站产品测试 错误 #5368: 321E，差点用户影响好点用户上行mcs
- 扩大解扰dm 问题已解决
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