云智软通研发流程管理系统

2025-07-29

16:30 3.0基站产品测试 错误 #3696: 3.0基站T4版本1D3U子帧配比大上行上行双天线UE上下行同时灌包会掉线

1、在星创CPE上进行QXDM抓包分析；--正在与厂家沟通；
2、3.1.3_Pre1T1 DU + T3 ap_driver；--验证OK,UE不掉线；
3、CPP CHECK检查DU代码；--进行中；
4、梳理并走查ap_d... 周 立伟

16:13 2.0基站产品化测试 错误 #3754: 17P_T3版本成研院外场meta60 UE接入失败问题

已反合入3.0 3.1.2_Pre1T5版本中。 周 立伟

16:12 3.0基站产品测试 错误 #3815 (转测试): T5版本du进程启动过程中偶现du崩溃

已修改并落入3.1.3_Pre1T1版本。 周 立伟

16:11 3.0基站产品测试 错误 #3820 (转测试): 3.1.3_Pre1T1基站DU启动过程coredump

更新ap_driver的配置文件后重新打3.1.3_Pre1T1大包 周 立伟

16:10 3.0基站产品测试 错误 #3820 (进行中): 3.1.3_Pre1T1基站DU启动过程coredump

已与李明新确认，是ap_driver的配置文件未在3.1.3_Pre1T1大包中更新导致的。 周 立伟

2025-07-25

16:41 3.0基站产品测试 错误 #3815 (进行中): T5版本du进程启动过程中偶现du崩溃

DU启动时，日志线程注册时存在资源冲突问题。需增加同步保护机制处理。 周 立伟

2025-07-16

09:49 2.0基站产品化测试 错误 #3754 (进行中): 17P_T3版本成研院外场meta60 UE接入失败问题

定位为UE Capability Info消息超大>3000字节，DU在F1C口处理SCTP发送时丢弃该包，未发到CU，导致UE释放。修改MAX_SCTP_DATA_LEN为4000。 周 立伟

09:46 2.0基站产品化测试 错误 #3754 (进行中): 17P_T3版本成研院外场meta60 UE接入失败问题

17P_T3版本成研院外场华为meta60 UE接入失败问题：
UE Capability enquiry后无响应，导致UE释放。 周 立伟

2025-07-15

16:08 3.0基站产品测试 错误 #3696: 3.0基站T4版本1D3U子帧配比大上行上行双天线UE上下行同时灌包会掉线

T5版本在241空口环境仍存在UE掉线问题，需进一步对ap_driver隔离排查。 周 立伟

16:07 3.0基站产品测试 错误 #3727: 【3.0整机】Rel_3.1.2_Pre1T4,21环境，128UE 7D2U worker2 核5 cpu 100%

在E500环境下进一步调试：
1）7D2U 下行256QAM支持
2）DU性能优化（上下行峰值灌包时的CPU占用率单核降到80%以下） 周 立伟