云智软通研发流程管理系统

2026-01-27

20:56 3.0基站产品测试 错误 #4805 (新建): DU日志线程注册不全问题

1、扩worker线程日志共享内存大小为30M；
2、补全注册未注册的日志线程； 周 立伟

11:24 3.0基站产品测试 错误 #4243 (转测试): AI基站 — 业务保障开关 和 智能优化开关

已验证通过走查完成，合入AI分支，可转测。 周 立伟

11:22 3.0基站产品测试 错误 #4509 (转测试): 1D3U子帧配比，上行双天线16UE上、下行udp灌包长保，du coredump

已验证通过走查完成，合入3.1.5_Pre1T2，可转测。 周 立伟

11:21 3.0基站产品测试 错误 #4545 (转测试): [3.0产品测试] 6.1G整机测试，7D2U配置，上行灌包mcs掉0

已验证通过走查完成，合入3.1.4/3.1.5_Pre1T1，可转测。 周 立伟

11:20 3.0基站产品测试 错误 #4565 (转测试): du开启多个Log模块，下行峰值灌包，开关几次log后，下行流量下降

已验证通过走查完成，合入3.1.4/3.1.5_Pre1T1，可转测。 周 立伟

11:12 3.0基站产品测试 错误 #4586 (转测试): ICIC特性，多个中心ue同时调度，当调度区间在不连续的两块区域时，会发生掉线情况

已验证通过走查完成，合入3.1.4/3.1.5_Pre1T1，可转测。 周 立伟

11:11 3.0基站产品测试 错误 #4587 (转测试): ICIC特性，5个中心ue，1个高干扰边缘ue，5个中心ue同时灌包，当调度区域分多块区域时，出现部分ue始终在rb区间较小的区域，导致速率较低。

已验证通过走查完成，合入3.1.4/3.1.5_Pre1T1，可转测。 周 立伟

11:11 3.0基站产品测试 错误 #4588 (转测试): ICIC特性，多个邻区场景下，且当前屏蔽的block在不连续的两个区域时，会出现中心ue和高干扰边缘ue在同一个slot调度时，中心ue调度区域不足

已验证通过走查完成，合入3.1.4/3.1.5_Pre1T1，可转测。 周 立伟

11:10 3.0基站产品测试 错误 #4590 (转测试): ICIC特性，高干扰边缘ue调度在最后30个rb时，中心ue期望结果是4,209，现在是4,205，少了4个rb

已验证通过走查完成，合入3.1.4/3.1.5_Pre1T1，可转测。 周 立伟

11:10 3.0基站产品测试 错误 #4591 (转测试): ICIC特性，上行调度，同一个slot中心用户和边缘用户同时调度，导致边缘用户未预留后4个rb给common pucch，期望结果最多只能调度到269，但实际能调度到273

已验证通过走查完成，合入3.1.4/3.1.5_Pre1T1，可转测。 周 立伟